FT160

X-Ray Coating Thickness Gauge FT160 Series

  • Accomplishing highly precise measurement by irradiate high-luminance primary x-ray to the area of about 30 μmφ.
  • High count rate silicon drift detector enables highly precise measurement.
  • Precise multi-point automatic measurement function helps high efficiencies of the measurement.
  • Easy operation enabled with simple.
  • Daily routine measurements can be conducted easily by using a registered application-like recipe.

เครื่องเอกซ์เรย์วัดความหนาผิวชุบ

  • มีความแม่นยำในการวัดชิ้นงานโดยรังสีเอกซ์เรย์ที่มีขนาด 30 ไมครอน
  • อัตราการนับของตัวตรวจจับสัญญาณที่สูงด้วย Silicon Drift Detector ทำให้ความแม่นยำในการวัดสูง
  • ฟังก์ชันในการวัดหลายจุดด้วยความแม่นยำช่วยให้มีประสิทธิภาพในการวัดสูง
  • ใช้งานได้อย่างง่ายดาย
  • สามารถวัดในงานประจำวันโดยการบันทึกข้อมูลในการใช้งาน